1.仪器名称、型号：三离子束截面抛光仪（Leica EM TIC 3X）
3.仪器功能介绍：
采用三束氩离子无应力研磨，专为 SEM、EBSD、AFM 制备高质量样品截面与平整表面，消除机械抛光产生的划痕、应力变形。可斜面切割制备截面，也可大面积抛光去除表层损伤；支持冷冻台处理热敏感材料，自带体视显微镜实时观测加工过程，适配电池、合金、陶瓷、高分子、地质、多孔复合材料等电镜前处理。
4.仪器主要参数：原理：宽氩离子束研磨切割
离子电压：1—10kV 可调
最大样品尺寸：φ38mm
最大抛光面积：φ25mm
配套多规格可换样品台（标准/冷冻/旋转/多样品台）
全程可视化监控，触摸屏自动化控制
5.仪器放置地点：南校区科创楼负一楼B08
6.负责老师姓名：高波；办公室：南校区科创楼514；邮箱：gb426426@163.com
