1.仪器名称、型号：透射电子显微镜（赛默飞Talos F200X G2)
3.仪器功能介绍：
透射电镜利用电子束穿透超薄样品，通过电磁透镜成像，可观察材料原子级微观结构、形貌与晶体缺陷，分辨率远超光学显微镜。
4.仪器主要参数：HRTEM线分辨率≤0.10 nm；STEM分辨率≤0.16 nm (X-FEG)，≤0.14 nm，100 pA (X-CFEG)；Super-X EDS系统4 SDD对称设计、无窗、遮光板保护；200 kV下的枪亮度1.8×109 A/cm2 srad (X-FEG)，2.4×109 A/cm2 srad (X-CFEG)。
5.仪器放置地点：玉泉校区 科创楼负一楼
6.负责老师姓名：赵玉娟，陶艺，邹梅；办公室：学正楼211，302；邮箱：yjzhao@imu.edu.cn，taoyi101@qq.com，zoum13@163.com
